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[代理] 英國馬爾文納米顆粒跟蹤分析儀(Nanosight NS300)
產品描述：馬爾文帕納科納米顆粒跟蹤分析儀NS300采用整體設計，具有對帶熒光標記的顆粒進行檢測的功能。NS300可以對于懸浮液中粒徑范圍在10-2000 nm的顆粒進行粒徑、散射光強、計數(shù)和熒光檢測。其檢測能力使其在蛋白質團聚、外泌體、微泡、藥物傳遞等等領域具有廣泛的應用。
更新:2024-12-11
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[代理] 英國馬爾文帕納科 X射線衍射儀(X'Pert3 MRD 系列)
產品描述：X'Pert 平臺在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統(tǒng)的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 馬爾文帕納科X射線衍射儀X'Pert3 平臺具有新型機載控制電子裝置，符合X 射線和運動安全規(guī)范，且具有環(huán)保和可靠性能，已準備好迎接未來的挑戰(zhàn)。
更新:2024-12-11
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[代理] 英國馬爾文帕納科激光粒度儀3000(Mastersizer 3000)
產品描述：Mastersizer 3000 馬爾文帕納科激光粒度儀可為干濕法分散提供快速、便捷的粒徑分布測試。 該分析儀可在納米至毫米粒度范圍內進行測量，體積小巧、性能穩(wěn)定可靠，可為所有用戶提供無需操作者干預的測量。馬爾文帕納科在粒度分析領域，為世界各地超過10000家公司的Mastersizer用戶帶來技術...
更新:2024-12-11
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[代理] 美國麥克全自動Χ光沉降粒度分析儀(SediGraph III 5120)
SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直...
更新:2024-12-11
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[代理] 瑞典Hot Disk TPS 熱常數(shù)分析儀(TPS 3500)
當您的樣品較小且導熱系數(shù)很高時，Hot Disk TPS 3500是測量導熱系數(shù)，熱擴散系數(shù)和比熱的理想工具。TPS 3500的能力超過任何現(xiàn)有的其他Hot Disk系統(tǒng)，同時保留所有TPS系統(tǒng)的精度，滿足ISO 22007-2標準。
更新:2024-12-11
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[新品] 日立TM4000Ⅱ掃描電鏡(TM4000)
日立TM4000Ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 TM4000Ⅱ優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV、20KV四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導航功能，同時，電鏡圖...
更新:2024-12-11
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[代理] 日本 Ai Phase 薄膜熱擴散系數(shù)測試儀(M3 Type 1)
Ai Phase M3 薄膜熱擴散系數(shù)測定儀利用溫度波原理測量薄膜樣品的熱擴散系數(shù)Ai Phase公司成立于2002年，一直致力于適用溫度波分析(TWA)在微、納米尺度上測量熱物性的研究。我們的目標是在生物技術、航空航天、汽車和化學工業(yè)領域的開發(fā)***TWA產品和服務并將其商業(yè)化。
更新:2024-12-11
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[新品] 日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡(FlexSEM1000)
FlexSEM1000 II是日立***新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。FlexSEM1000 II配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的SEM-MAP光鏡導航和5軸樣品臺可以...
更新:2024-12-11
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