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表面顆粒計(jì)數(shù)器(U-III)
UK MICRON OPTOELECTRONICS的表面粒子檢測(cè)器系列通過(guò)以下技術(shù)實(shí)現(xiàn)電子半導(dǎo)體行業(yè)表面污染的量化監(jiān)測(cè)和控制：核心技術(shù)原理界面顆粒再懸浮技術(shù)?：采用先進(jìn)界面技術(shù)，通過(guò)物理或氣流方式將附著在關(guān)鍵表面的顆粒重新懸浮，便于后續(xù)檢測(cè)。高精度光學(xué)檢測(cè)：基于激光光學(xué)傳感器和光散射原理，實(shí)時(shí)捕獲懸浮...
更新:2025-04-26
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[新品] 英微米表面微粒分析儀(U-III)
英微米表面微粒分析儀該產(chǎn)品專為高潔凈度制造場(chǎng)景設(shè)計(jì)，采用革命性激光傳感技術(shù)與智能采樣系統(tǒng)，可精準(zhǔn)檢測(cè)0.1微米級(jí)表面顆粒污染，助力半導(dǎo)體、液晶面板及精密電子行業(yè)實(shí)現(xiàn)更高良率與可靠性。
更新:2025-04-26
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[新品] 英微米表面粒子計(jì)數(shù)器U-III(U-III)
英微米表面粒子計(jì)數(shù)器U-III搭載HeNe激光傳感器，分辨率達(dá)0.1微米，支持0.1-5.0微米顆粒粒徑的六通道分類統(tǒng)計(jì)（0.1/0.2/0.3/1.0/3.0/5.0μm），覆蓋半導(dǎo)體制造中對(duì)超細(xì)微粒的嚴(yán)苛檢測(cè)需求。
更新:2025-04-26
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[新品] 英微米晶圓表面潔凈度測(cè)定儀U-III(U-III)
英微米晶圓表面潔凈度測(cè)定儀U-III采用界面顆粒再懸浮技術(shù)?通過(guò)物理或氣流方式將附著在關(guān)鍵表面的顆粒重新懸浮，便于后續(xù)檢測(cè)。高精度光學(xué)檢測(cè)：基于激光光學(xué)傳感器和光散射原理，實(shí)時(shí)捕獲懸浮粒子的散射光信號(hào)，實(shí)現(xiàn)單個(gè)粒子尺寸的精確分析。關(guān)鍵性能指標(biāo)分辨率達(dá)0.1微米，支持納米級(jí)顆粒檢測(cè)；配備...
更新:2025-04-26
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英微米表面顆粒檢測(cè)儀U-III(U-III)
英微米表面顆粒檢測(cè)儀U-III該產(chǎn)品專為高潔凈度制造場(chǎng)景設(shè)計(jì)，采用革命性激光傳感技術(shù)與智能采樣系統(tǒng)，可精準(zhǔn)檢測(cè)0.1微米級(jí)表面顆粒污染，助力半導(dǎo)體、液晶面板及精密電子行業(yè)實(shí)現(xiàn)更高良率與可靠性。
更新:2025-04-26
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